Osamura K., Kobayashi S., Yamazaki K., Fujikami J., Kikuchi M., Takeda S., Nakashima T., Osabe G., Kagiyama T.
Osamura K., Yamada Y., Yamazaki K., Fujikami J., Hampshire D.P., Machiya S., Tsuchiya Y., Osabe G., Shobu T., Kajiwara K.
Hayashi K., Sato K., Kobayashi S., Yamazaki K., Fujikami J., Kikuchi M., Nakashima T., YAMADE S., Osabe G., Kagiyama T.
Vysotsky V.S., Kobayashi S., Yamazaki K., Fujikami J., Radchenko I.P., Fetisov S.S., Kinoshita K., Osabe G., Sotnikov D.V.
Hayashi K., Sato K., Kobayashi S., Yamazaki K., Fujikami J., Kikuchi M., Nakashima T., YAMADE S., Osabe G., Kagiyama T.
Ключевые слова: HTS, DI-Bi2223/Ag, tapes, thermal conductivity, anisotropy, temperature dependence, experimental results
Ключевые слова: power equipment, cables three-in-one, fabrication, HTS, coated conductors, patents
Ключевые слова: patents, fabrication, mechanical treatment, PIT process, wires multifilamentary, HTS, Bi2223/Ag
Ключевые слова: patents, HTS, PIT process, fabrication, mechanical treatment, heat treatment, Bi2223, tapes
Ключевые слова: wires multifilamentary, LTS, NbTi, ac losses, measurement technique
Ayai N., Hayashi K., Higashikawa K., Kiss T., Inoue M., Sato K., Kitaguchi H., Kumakura H., Kobayashi S., Yamazaki K., Fujikami J., Kikuchi M., Shimoyama J., Nakashima T., YAMADE S., Tatamidani K., Osabe G., Kagiyama T., Shizuya E.
Ayai N., Hayashi K., Sato K., Kitaguchi H., Kumakura H., Kobayashi S., Yamazaki K., Fujikami J., Kikuchi M., Shimoyama J., Nakashima T., YAMADE S., Tatamidani K., Osabe G., Kagiyama T., Shizuya E.
Ключевые слова: HTS, Bi2223/Ag, fabrication, review, DI-Bi2223, tapes, critical current distribution, critical caracteristics, critical current
Ключевые слова: patents, fabrication, PIT process, HTS, Bi2223
Ayai N., Hayashi K., Sato K., Kobayashi S., Yamazaki K., Fujikami J., Kikuchi M., Hata R., YAMADE S., Kitaguti H.
Ayai N., Hayashi K., Osamura K., Kato T., Sato K., Kitaguchi H., Kumakura H., Kobayashi S., Yamazaki K., Fujikami J., Kikuchi M., Shimoyama J., Ishida T., Hata R., YAMADE S., Tatamidani K.
Ключевые слова: HTS, Bi2223/Ag, tapes, measurement technique, ac losses, magnetic field dependence, critical caracteristics
Ayai N., Hayashi K., Osamura K., Fukumoto Y., Sato K., Kitaguchi H., Kumakura H., Kobayashi S., Yamazaki K., Fujikami J., Kikuchi M., Shimoyama J., Ishida T., YAMADE S., Tatamidani K., Kamijyo H.
Ключевые слова: HTS, DI-Bi2223, overpressure processing, sintering, review, current distribution, homogeneity, long conductors, Jc/B curves, mechanical properties, strain effects, tensile tests, bending process, stress effects, reinforcement, ac losses, experimental results, critical caracteristics, fabrication
Ayai N., Hayashi K., Osamura K., Kato T., Sato K., Kitaguchi H., Kumakura H., Kobayashi S., Yamazaki K., Fujikami J., Kikuchi M., Shimoyama J., Ishida T., Hata R., YAMADE S., Iihara J., Yamaguchi K.
Ayai N., Hayashi K., Kato T., Sato K., Kobayashi S., Yamazaki K., Fujikami J., Ueno E., Kikuchi M., Shimoyama J., Hata R., YAMADE S., Iihara J., Yamaguchi K.
Ayai N., Kobayashi S., Yamazaki K., YAMADE S., Kikuchi M., Ueno E., Fujikami J., Kato T., Hayashi K., Sato K., Hata R., Kitaguchi H., Kumakura H., Shimoyama J.
Hayashi K., Shiohara Y., Matsushita T., Kiuchi M., Sato K., Yamada Y., Fujikami J., Kimura K., Takayama S.
Ayai N., Hayashi K., Kato T., Sato K., Kitaguchi H., Kobayashi S., Yamazaki K., Fujikami J., Ueno E., Kikuchi M., Shimoyama J., YAMADE S.
Ключевые слова: cables three-in-one, HTS, termination, joints, patents, power equipment
Hayashi K., Kato T., Sato K., Fujino K., Kobayashi S., Yamazaki K., Ohkura K., Fujikami J., Ueno E., Kikuchi M., Hata R., Ayai N.(ayai-naoki@sei.co.jp)
Ключевые слова: HTS, tapes, current-voltage characteristics, ac losses, experimental results, critical caracteristics
Hayashi K., Matsushita T., Otabe E.S., Kiuchi M.(kiuchi@cse.kyutech.ac.jp), Sato K., Fujikami J.
Ayai N., Hayashi K., Kato T., Fujino K., Kobayashi S., Yamazaki K., Fujikami J., Ueno E., Kikuchi M., YAMADE S., SATOJ K.
Ключевые слова: HTS, Bi2223, tapes, fabrication, comparison, coated conductors, economic analysis
Kiuchi M., Himeda Y., Sato K., Matsushita T.(matusita@cse.kyutech.ac.jp), Fujikami J.*2 Hayashi K.
Ключевые слова: HTS, Bi2223/Ag, overpressure processing, Jc/B curves, temperature dependence, angular dependence, n-value, irreversibility fields, current-voltage characteristics, magnetic field dependence, anisotropy, numerical analysis, experimental results, comparison, critical caracteristics, fabrication, magnetic properties
Ayai N., Hayashi K., Kato T., Sato K., Kobayashi S., Yamazaki K., Fujikami J., Kikuchi M., Hata R., YAMADE S., UENOA E.
Ключевые слова: HTS, Bi2223/Ag, fabrication, PIT process, long conductors, critical current, critical caracteristics
Ayai N., Hayashi K., Kato T., Fujino K., Yamazaki K., Ohkura K., Fujikami J., Ueno E., Kikuchi M., Kobayashi S.(kobayashi-shinichi@sei.co.jp)
Matsushita T., Kiuchi M., Himeda Y., Fujikami J., Hayashi K.(hayashi-kazuhiko@sei.co.jp)
Ayai N., Hayashi K., Kato T., Sato K., Fujino K., Kobayashi S., Yamazaki K., Fujikami J., Ueno E., Kikuchi M., Ohkura K.(kobayashi-shinichi@sei.co.jp), Hata R.
Ayai N., Hayashi K., Sato K., Kato T.(kato-takeshi@sei.co.jp), Kobayashi S., Yamazaki K., Ohkura K., Ueyama M., Fujikami J., Ueno E., Kikuchi M.
Ayai N., Hayashi K., Kato T., Yamazaki K., Ohkura K., Ueyama M., Fujikami J., Ueno E., Kikuchi M., Hata R., Kobayashi S.-I., SATO K.-I.
Ключевые слова: HTS, Bi2223/Ag, tapes, fabrication, mechanical properties, critical current, review, critical caracteristics
Takahashi Y., Kato T., Honjo S., Masuda T., Fujikami J., Yumura H., Okazaki T., Matsuo K., Mimura T.
Ключевые слова: HTS, ac losses, numerical analysis, patents, cables, power equipment
© Copyright 2006-2012. Использование материалов сайта возможно только с обязательной ссылкой на сайт.
Свои замечания и пожелания вы можете направлять по адресу perst@isssph.kiae.ru
Техническая поддержка Alexey, дизайн Teodor.